Челябинские ученые создают нейросетевой микроскоп для проверки электроники без разрушения деталей
Ученые Южно-Уральского государственного университета разрабатывают «цифровой микроскоп», способный заглянуть внутрь электронного компонента без разрезов и повреждений – только с помощью нейросетей и стандартных электрических измерений.
Проект ведет команда под руководством доцента Владимира Сурина. Разработка нацелена на диагностику варисторов – полупроводниковых резисторов, защищающих электронику от скачков напряжения. Сегодня их проверяют с помощью дорогостоящей электронной микроскопии, требующей разрушения образца. Новый метод работает иначе: система считывает электрические характеристики детали, а ансамбль нейросетей восстанавливает ее внутреннюю микроструктуру за секунды.
Система объединяет три типа нейросетей: LSTM фильтрует шумы сигналов, PINN учитывает физические законы, GAN генерирует изображение внутренней структуры. Результат – карта микроструктуры, статистически неотличимая от снимков с электронного микроскопа.
Технология реализуется как программный модуль, который можно подключить к уже существующему испытательному оборудованию. В перспективе метод применят для диагностики керамики, сенсоров и композитных материалов.
